![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости National Instruments
Новости компаний
24.02.2015 | 1794
Форум состоится в Санкт-Петербурге 5 марта 2015 г. В ходе мероприятия будут рассмотрены новые возможности промышленной платформы для решения задач разработки и контроля СВЧ аппаратуры, программные обеспечения National Instruments, технологии National Instruments в задачах автоматизации тестирования РЭА и многие другие темы.
17.02.2015 | 1916
Компания National Instruments (Nasdaq: NATI), поставщик решений, которые позволяют инженерам и ученым реализовывать сложнейшие задачи - объявила о сотрудничестве с CERN – крупнейшим в мире центром научных исследований, в работе которого используются самые передовые программно-аппаратные технологии.
31.12.2014 | 2329
NI (Nasdaq: NATI), производитель решений, помогающих инженерам и ученым решать важнейшие мировые инженерные и научные задачи, анонсировала выход LabVIEW Communications System Design Suite, объединяющего аппаратное обеспечение для программно-определяемых радиосистем (SDR) с комплексным программным обеспечением для полного цикла разработки, и позволяющего инженерам прототипировать системы связи пятого поколения.
09.12.2014 | 1949
Мероприятие пройдёт 12 декабря 2014 в г. Екатеринбург, по адресу: ул. Энгельса, д. 7 гостиница Novotel.
11.11.2014 | 1851
NI (Nasdaq: NATI), производитель решений, помогающих инженерам и ученым решать важнейшие мировые инженерные и научные задачи, объявила о своем сотрудничестве с CROWD, европейским проектом EU FP7 по разработке нового поколения беспроводных коммуникаций. CROWD исследует комбинирование малых и крупных сот в неоднородной беспроводной сети для построения эффективной архитектуры, в которой малые соты обеспечивают трафик самых напряженных точек, а крупные соты обеспечивают надежное покрытие при активном перемещении пользователей.
04.11.2014 | 2208
Компания National Instruments рада представить новейшее пополнение в линейке продуктов для сбора аналоговых и цифровых данных. Новые приборы X-серии PXIe-6345, PXIe-6355, PXIe-6365 и PXIe-6375 обладают самой большой плотностью каналов из когда-либо выпущенных, соответствуя требованиям эры больших аналоговых данных.
29.10.2014 | 2153
NI (Nasdaq: NATI), производитель решений, помогающих инженерам и ученым решать важнейшие мировые инженерные и научные задачи, сегодня анонсировала выход высокопроизводительного СВЧ векторного анализатора до 26.5 ГГц с наибольшей в отрасли полосой, а также СВЧ синтезатора до 20 ГГц с быстрой перестройкой. Эти два прибора дополняют существующую линейку модульных приборов, расширяя измерительные возможности платформы PXI.
24.10.2014 | 1878
Компания National Instruments (Nasdaq: NATI), поставщик решений, которые позволяют инженерам и ученым реализовывать сложнейшие задачи – анонсировала NI InsightCM Enterprise, новый программный продукт, который помогает компании осуществлять контроль состояния своего оборудования в процессе эксплуатации.
17.09.2014 | 1824
Мероприятие состоится 18 сентября в г. Воронеже. Семинар предназначен для технических специалистов и руководителей, работающих над исследованием, разработкой и внедрением высокотехнологичных решений в области машиностроения, электротехники, энергетики и электроники.
11.09.2014 | 1932
National Instruments (Nasdaq: NATI), основатель и производитель модульной аппаратно-программной платформы, которая позволяет инженерам и ученым реализовывать самые сложные задачи - анонсировала новый 4х слотовый контроллер CompactDAQ. Благодаря интеграции процессора Intel, модулей обработки сигнала и блоков ввода/вывода в одной системе CompactDAQ , инженеры и ученые могут снизить общую стоимость и сложность системы, при этом увеличивая точность измерений.
|
События из истории измерений
|