![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 871 - 880 из 3296
29.07.2017 | 1393
Вопросы нормативно правового поля стандартизации, а также перспективы расширения и углубления взаимодействия обсудили Руководитель Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии Алексей Абрамов и Председатель Комитета технического регулирования и метрологии Министерства по инвестициям и развитию Республики Казахстан (далее – Комитет) Галымжан Дугалов.
28.07.2017 | 1283
Анализатор ориентирован на задачи, не требующие сложных измерений и конфигураций, для решения которых достаточно только S-параметров.
Благодаря этому анализаторы до 3 и 6 ГГц являются самыми бюджетными решениями в линейке.
26.07.2017 | 1785
Термовоздушные и многофункциональные паяльные станции Актаком АТР-4204/4302/4501 предназначены для монтажа и демонтажа электронных компонентов при помощи горячего воздуха...
25.07.2017 | 1143
Компания Keysight Technologies, Inc. продемонстрировала на выставке Automotive Testing Expo 2017, которая прошла 20-22 июня в Штутгарте, Германия, широкий спектр решений для проектирования и тестирования автоэлектроники, помогающих инженерам достичь непревзойдённого уровня безопасности и производительности автомобильных электронных компонентов и модулей.
24.07.2017 | 1454
Корпорация Anritsu выпустила многоскоростной модуль 100 Гбит/с для своего универсального тестера Network Master™ Pro MT1000A. Этот модуль поддерживает интерфейсы со скоростями передачи данных от 10 Мбит/с до 100 Гбит/с, а также такие технологии, как Ethernet, оптические транспортные сети (OTN), SDH/SONET, Fibre Channel и CPRI/OBSAI.
21.07.2017 | 1628
Yokogawa Electric Corporation сообщила о разработке и официальном выпуске Virtual-M3, программного средства для моделирования работы контроллера универсального диапазона FA-M3V. Данное ПО позволяет создать виртуальную среду для отладки прикладных управляющих программ для FA-M3V на ПК без необходимости использования самого контроллера и устройств ввода/вывода.
20.07.2017 | 1528
Продлено свидетельство об утверждении типа средств измерений (№50590-12 Госреестр СИ РФ) на токовые клещи Актаком АСМ-2056, АСМ-2311, АСМ-2348, АСМ-2352, АСМ-2353, АСМ-2368. Модели Актаком АСМ-2056, АСМ-2311, АСМ-2368 являются полнофункциональными токовыми клещами-мультиметрами и предназначены для измерения постоянного и переменного тока (кроме АСМ-2311) и напряжения, сопротивления, емкости, а модели АСМ-2348, АСМ-2352, АСМ-2353, кроме того, могут измерять мощность в однофазных и трехфазных сетях разных конфигураций.
Срок действия обновленного свидетельства - до 15 мая 2022 года.
18.07.2017 | 1515
29 июля 2017 в Москве компания National Instruments проводит крупнейшее мероприятие, посвященное программированию – LabVIEW Developer Days.
Данный семинар предназначен для инженеров и исследователей, которые хотят улучшить свои навыки в программировании LabVIEW.
17.07.2017 | 1357
Семинар пройдёт 27 июля в Нижнем Новгороде. Специалисты компании расскажут о наиболее перспективных технологиях и о том, что Keysight может предложить для решения большинства чрезвычайно сложных измерительных задач.
14.07.2017 | 1731
Yokogawa Electric Corporation объявила о расширении своей линейки датчиков давления / перепада давления серии DPharp EJA®. Компания разработала и начала продажи измерительной системы с адаптацией для гигиенического применения EJAC60E. Система EJAC60E состоит из датчика избыточного давления в гигиеническом исполнении EJA560E и адаптеров для различных размеров и типов подключения.
Новости 871 - 880 из 3296
|
События из истории измерений
05.02.1915
Родился американский физик-экспериментатор, лауреат Нобелевской премии по физике 1961 года
|