![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 491 - 500 из 3296
04.06.2019 | 1111
Компания Keysight Technologies приглашает на семинары из серии HOTSPOTS «Основы измерений». 19 июня 2019 в Москве параллельно будут проходить 3 сессии...
30.05.2019 | 1084
Компания Rohde & Schwarz представляет два новых семейства анализаторов спектра с широким модельным рядом по сетке рабочих частот, которые охватывают диапазон до 44 ГГц.
27.05.2019 | 1055
Новый измеритель мощности ВЧ-сигналов компании Rohde & Schwarz оснащен графическим интерфейсом на базе сенсорного экрана, который помогает пользователям в настройке прибора. Измеритель мощности R&S NRX может иметь до четырех измерительных каналов, для каждого из которых компания Rohde & Schwarz предлагает широкий выбор датчиков мощности. Впервые одно устройство поддерживает как поглощающие, так и направленные датчики мощности.
25.05.2019 | 1122
Результаты деятельности Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) за 2018 год и задачи на текущий год обсуждались на итоговой коллегии ведомства 22 мая 2019 года в Москве.
24.05.2019 | 1054
Keysight Technologies, Inc., признанный мировой лидер отрасли, чьи решения помогают предприятиям, поставщикам услуг и государственным организациям в ускорении внедрения инноваций для надёжного глобального взаимодействия, представила первое в отрасли решение для всеобъемлющего тестирования памяти DDR5. Решение Keysight для комплексного тестирования памяти DDR5 основано на использовании новых методик тестирования передатчиков и приёмников на соответствие стандартам. Это позволяет выполнить все требования к испытаниям, указанные в спецификации DDR5.
23.05.2019 | 1263
Благодаря новой опции RSA5000-VSA анализаторы спектра реального времени Rigol RSA5000 серии получили новые функциональные возможности. Активированная опция RSA5000-VSA позволяет использовать прибор серии RSA в качестве векторного анализатора сигналов и предоставляет комплексное решение по анализу сигналов с квадратурными видами модуляций и их проверке на соответствие стандартам.
20.05.2019 | 1040
Очередная встреча Клуба радиоинженеров Rohde & Schwarz пройдет в Екатеринбурге 30 мая 2019 г. В хоте семинара будут рассматриваться следующие темы: векторные генераторы сигналов, анализ сигналов с векторной модуляцией, программное обеспечение для генерации и анализа сигналов и многие другие вопросы.
17.05.2019 | 1543
В 2019 году NI представляет новый формат, призванный объединить в себе и заменить собой все малые конференции NIDays и NISummit, собрав под одной крышей еще больше прорывных решений и продуктов, разработчиков National Instruments и экспертов различных отраслей, в масштабе всей Европы...
16.05.2019 | 1181
Модельный ряд токоизмерительных клещей, выпускаемых под торговой маркой Актаком, пополнился новой моделью - микротоковыми клещами с функцией мультиметра АСМ-2154. Новый прибор имеет компактные размеры и обеспечивает высокую точность измерений. Отличительной чертой АСМ-2154 является наличие двух диапазонов 40 мА и 400 мА в режиме переменного тока, что позволяет выполнять измерения низких и слабых токов, например, токов утечки.
15.05.2019 | 1030
С помощью широкополосного радиокоммуникационного тестера R&S® CMW500 компании Rohde & Schwarz и Huawei успешно проверили совместимость технологии LTE-V для подключенных автомобилей. В качестве испытуемого устройства с поддержкой LTE-V использовалась интегральная схема Huawei Balong 765. Было отработано несколько сценариев испытаний связи через Интернет транспортных средств (IoV) с использованием режима 4, описанного в выпуске 14 стандарта 3GPP.
Новости 491 - 500 из 3296
|
События из истории измерений
|