![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости Keysight Technologies
Новости компаний
23.04.2012 | 2105
Компания Agilent Technologies объявила о добавлении новой возможности выполнения нескольких измерений в программное обеспечение векторного анализа сигналов 89600 VSA. Теперь можно одновременно анализировать несколько несущих и форматов сигнала, повышая эффективность тестирования беспроводного оборудования.
19.04.2012 | 2052
Компания Agilent Technologies продемонстрировала свои первые в отрасли решения в области тестирования и измерения параметров коммуникационного оборудования для LTE-Advanced, LTE, HSPA+, HSDPA с двумя несущими, MIMO, многостандартной радиосвязи (MSR) и передачи голоса по каналу LTE, наряду с решениями 2G/3G. Эти решения, используемые в процессе исследований, разработок, производства и развертывания оборудования были представлены на выставке Mobile World Congress в Барселоне 27 февраля – 1 марта.
16.04.2012 | 2085
Компания Agilent Technologies объявила о том, что компания Bluetest AB теперь поддерживает решение для тестирования беспроводной связи Agilent PXT. Тестовая система с реверберационной камерой (RTS) компании Bluetest использует решение Agilent PXT для измерения характеристик устройств LTE по радиоканалу.
12.04.2012 | 2075
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске нового приложения для лабораторных исследований E6703H W-CDMA/HSPA, которое поддерживает режимы тестирования канала DC-HSDPA со скоростью 42-Мбит/с и передачу IP данных. Приложение рассчитано на использование с недавно представленным высокопроизводительным решением для тестирования беспроводной связи E5515E 8960 серии 10. Решение компании Agilent для канала DC-HSDPA было представлено на выставке Mobile World Congress (Зал 1, стенд A46) в Барселоне, 27 февраля - 1 марта.
09.04.2012 | 2303
Компания Agilent Technologies представила высокоскоростной дигитайзер M9703A, первый в отрасли восьмиканальный 12-разрядный дигитайзер, совместимый с открытым стандартом AXIe. Дигитайзер формата AXIe предназначен для широкомасштабных исследований в области прикладной физики.
05.04.2012 | 2139
Компания Agilent Technologies объявила о начале поставок новейшей версии профессионального программного обеспечения для электромагнитного моделирования EMPro 2011.11. Обновленная платформа для создания объемных моделей и 3D ЭМ моделирования отличается повышенной скоростью работы и улучшенными технологиями разработки и проверки ВЧ устройств.
26.03.2012 | 2777
Компания Agilent Technologies представила прецизионный анализатор сигналов для инженеров, занятых проверкой и приемочными испытаниями вновь разрабатываемых высокоскоростных коммуникационных систем и компонентов.
22.03.2012 | 1879
Компания Agilent Technologies объявила о том, что ее осциллографы серии Infiniium 2000 и 3000 X получили приз за инновации 2011 EDN China за лучшее изделие в категории контрольно-измерительных приборов.
19.03.2012 | 2498
Компания Agilent Technologies представила новые осциллографы U1610A и U1620A, расширяющие ассортимент ручных приборов. В целях повышения безопасности работы обе модели имеют по два изолированных входных канала, сертифицированных по категории КАТ III 600 В. Это гарантирует защиту пользователей и предотвращает повреждение прибора при выполнении измерений с развязкой от земли.
16.03.2012 | 2153
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске четырех новых моделей осциллографов серии InfiniiVision 3000 Х с полосой пропускания 1 ГГц. Новые осциллографы отвечают растущим потребностям в более широкополосных лабораторных приборах, а цены на эти модели близки к ценам на аналогичные осциллографы других ведущих производителей с вдвое меньшей полосой пропускания.
|
События из истории измерений
|