![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 861 - 870 из 3296
18.08.2017 | 1352
22 августа компания National Instruments проводит вебинар «Основы и терминология сбора данных». В ходе вебинара предлагается изучить основы и терминологию сбора данных, а также основные составляющие процесса и принципы выполнения измерений.
17.08.2017 | 1154
Компания Keysight Technologies, Inc. объявила о выпуске пакета контрольно-измерительных решений для быстрорастущего рынка аккумуляторных батарей, гибридных автомобилей, электромобилей и бытовых систем управления энергопотреблением.
14.08.2017 | 1271
Высоковольтный тестер изоляции Актаком АММ-2093 предназначен для проведения испытаний стойкости изоляции высоким напряжением до 5/6 кВ (AC/DC), измерения сопротивления изоляции до 10 ГОм электронных приборов и компонентов, а также измерения межвиткового дугового тока.
13.08.2017 | 1184
6-е заседание Рабочей подгруппы по метрологическому обеспечению учета энергетических ресурсов Постоянной Российско-Китайской Рабочей группы по стандартизации, метрологии, сертификации и инспекционному контролю состоялось в конце июня в г. Ухань (КНР). В ходе заседания стороны отметили эффективную работу ответственных организаций по исполнению поручений протокола 5-го заседания Рабочей подгруппы в части проведения работы по сличению первичных государственных эталонов Российской Федерации и Китайской Народной Республики.
08.08.2017 | 1503
Продлены свидетельства об утверждении типа средств измерений на цифровые мультиметры Актаком. В обновленное свидетельство включены модели мультиметров АММ-1008, АММ-1009, АММ-1028, АММ-1032, АММ-1062, АММ-1063, АММ-1139, АММ-3031.
Срок действия обновленного свидетельства - до 30 мая 2022 года.
Регистрационный номер в Госреестре СИ РФ №50590-12.
07.08.2017 | 1317
Компания Keysight Technologies, Inc. объявила о выпуске первого в отрасли генератора СВЧ-сигналов в формате PXIe с диапазоном частот до 44 ГГц и полосой модуляции до 1 ГГц, предназначенного для формирования сложных сигналов на этапе тестирования разрабатываемых устройств на соответствие требованиям новых технологий 5G, а также оборонных и аэрокосмических приложений.
06.08.2017 | 1360
Шестое заседание Рабочей группы по сотрудничеству в области стандартизации, метрологии и оценки соответствия Межправительственной комиссии по экономическому, промышленному и научно-техническому сотрудничеству между Российской Федерацией и Чешской Республикой состоялось в г. Екатеринбурге, в период проведения 8-й международной промышленной выставки ИННОПРОМ.
02.08.2017 | 1397
Вашему вниманию представляется новая компактная индукционная паяльная станция Актаком ASE-1211.
Индукционная паяльная станция ASE-1211 имеет антистатическую защиту и обеспечивает сверхбыстрый нагрев наконечника паяльника переменным магнитным полем в диапазоне от 100 до 500 °С и может применяться для бессвинцовой пайки.
Максимальная мощность новой паяльной станции составляет 90 Вт.
01.08.2017 | 1640
Компания Anritsu разработала анализатор качества сигналов (SQA) MP1900A BERT, представляющий собой гибкое решение для измерения характеристик интерфейсных шин нового поколения PCI Express Gen 4 и Gen 5, а также для измерений в самых последних версиях сетей Ethernet 400 GbE и 200 GbE.
31.07.2017 | 1520
Компания Keysight Technologies объявила о выходе широкополосного анализатора цепей СВЧ-диапазона, обеспечивающего непревзойдённую точность системного уровня в диапазоне до 120 ГГц. Новые решения Keysight N5290/91A дают результаты метрологического класса, позволяя разработчикам с высокой достоверностью измерять характеристики устройств СВЧ-диапазона.
Новости 861 - 870 из 3296
|
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"
|