![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости National Instruments
Новости компаний
25.07.2008 | 5273
В июне 2008 года компания National Instruments объявила о выпуске трех новых контроллеров Compact FieldPoint, которые обладают увеличенной производительностью, высокой скоростью обработки данных и увеличенной пропускной способностью Ethernet-интерфейса.
04.07.2008 | 4805
Компания National Instruments объявила о выходе новой версии платформы для изучения схемотехники и электротехники NI ELVIS II, которая широко используется во всем мире для практикумов и лабораторных работ. Созданная на базе мощной среды графического программирования LabVIEW, платформа NI ELVIS дает возможность преподавателям не только использовать 12 различных инструментов через обыкновенное USB-подключение, но и обеспечивает полную интеграцию со средой SPICE-моделирования Multisim 10.1, значительным образом упрощая процесс обучения схемотехники.
17.06.2008 | 3595
Компания National Instruments опубликовала программу мероприятий для конференции NIWeek - главного события в области измерений и автоматизации. Это событие привлекает более 3000 ведущих инженеров, преподавателей и ученых со всего мира. NIWeek 2008 является четырнадцатой по счету ежегодной конференцией компании. Она открывается 5 августа в конференц-зале Austin Convention Center в г. Остин (Техас). В течении трех дней будут проходить различные интерактивные технические секции, круглые столы, практические семинары и выставки, посвященные последним достижениям в сферах современных средств разработки, систем управления, автоматизации, производства и тестовых испытаний.
16.06.2008 | 4487
Компания National Instruments анонсировала выход набора инструментов для LabVIEW - NI GPS Toolkit, представляющего собой дополнение к среде графической разработки. Этот набор инструментов расширяет спектр функциональных возможностей платформы NI RF PXI и позволяет проводить симуляцию GPS-сигналов нескольких спутников. Используя программное обеспечение NI LabVIEW для генерации радиосигналов и симуляции сигналов 12 спутников (формируя последовательность навигационных C/A кодов в полосе частот L1), инженеры могут измерять чувствительность приемного устройства, регистрировать время захвата (TTFF) и определять точность позиционирования при помощи генератора векторных сигналов NI PXIe-5672 RF.
09.06.2008 | 3754
Компания National Instruments объявила о выходе набора инструментов Measurement Studio 8.5, повышающего функциональность новейшей среды разработки от Microsoft с помощью полного набора библиотек классов для .NET framework, инструментальных средств и поддержки драйверов сбора данных для Microsoft Visual Studio 2008.
06.06.2008 | 3607
20 мая 2008 – компания National Instruments объявила о выходе новой версии платформы для изучения схемотехники и электротехники NI ELVIS II, которая широко используется во всем мире для практикумов и лабораторных работ. Созданная на базе мощной среды графического программирования LabVIEW, платформа NI ELVIS дает возможность преподавателям не только использовать 12 различных инструментов через обыкновенное USB-подключение, но и обеспечивает полную интеграцию со средой SPICE-моделирования Multisim 10.1, значительным образом упрощая процесс обучения схемотехнике.
20.05.2008 | 3618
Вот уже более 5 лет компания National Instruments проводит активную деятельность в рамках своей Образовательной программы. 4 августа 2008 года в рамках международной конференции NIWeek 2008 в г. Остин (штат Техас) пройдет специальный академический форум (Academic Forum), который будет посвящен исключительно образовательной сфере и применению в ней самых современных измерительных и компьютерных технологий.
04.05.2008 | 6953
компания National Instruments объявила о поддержке новых недорогих осциллографов Tektronix последней версией программного обеспечения LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition. Напомним, что LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition – это программный пакет для интерактивных измерений на базе ПК, который позволяет быстро собирать, обрабатывать данные и представлять результаты, совершенно не прибегая к процедурам программирования. Используя LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5, вы можете управлять осциллографами недорогой линейки Tekronix, включающую новые цифровые люминесцентные осциллографы Tektronix DPO3000 и TDS3000C, а также осциллографы для смешанных сигналов MSO4000, со своего компьютера с помощью простой в использовании среды.
03.05.2008 | 6601
компании National Instruments и ARM объявили о выходе нового модуля LabVIEW для ARM-микроконтроллеров NI LabVIEW Embedded Module for ARM Microcontrollers, который является расширением платформы графического программирования LabVIEW и позволяет использовать в качестве целевых платформ следующие семейства микроконтроллеров: ARM 7™, ARM 9™ и Cortex™-M3. Представленный модуль – первый плод сотрудничества компаний, он позволяет использовать LabVIEW для программирования высокопроизводительных ARM-микроконтроллеров.
22.04.2008 | 4360
Компания National Instruments объявила о выходе двух новых недорогих встраиваемых контроллеров PXI-8104 и PXI-8183, обладающих исключительной производительностью. Благодаря высокому соотношению цена-производительность эти контроллеры идеально подойдут для задач тестирования, измерения и управления с малым бюджетом. Новые контроллеры дают инженерам возможность воспользоваться преимуществами PXI-платформы во всевозможных задачах в самых разных отраслях, включая бытовую электронику, автомобилестроение, телекоммуникации, а также аэрокосмическую, оборонную и полупроводниковую промышленности.
|
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
|