 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Новости компаний
05.01.2013 | 3437
Spectrum Master™ седьмого поколения обладает лучшими в своем классе показателями динамического диапазона, среднего уровня собственного шума, фазового шума и скорости развертки, а также сенсорным экраном и следящими генераторами с диапазоном частот до 20 ГГц
04.01.2013 | 2262
Измерительный ЭМП-приемник R&S®ESR назван журналом EDN, выпускаемым UBM Tech, одним из лучших ста изделий 2012 года.
03.01.2013 | 1889
Компания Agilent Technologies объявила о запуске нового веб-портала, который облегчает заказчикам взаимодействие с Agilent и позволяет получать информацию в соответствии со своей сферой деятельности и используемыми приборами.
02.01.2013 | 2608
По результатам испытаний получены свидетельства об утверждении типа средств измерений (включены в Госреестр СИ РФ) на портативные приборы электробезопасности Fluke.
В Государственный Реестр средств измерений включены: клещи для измерения сопротивления заземления Fluke-1630 и измерители сопротивления изоляции Fluke-1550С и Fluke-1555. 31.12.2012 | 2233
Компанией Rohde & Schwarz выпущено программное обеспечение версии 2.12 для портативного анализатора спектра R&S®FSH4/8 и проведено расширение возможностей для R&S®FSH4/8 опцией FSH-Z114.
29.12.2012 | 2448
Редакторы журнала EDN признали осциллографы серии THS3000, обладающие частотой дискретизации 5 Гвыб/с и компактным корпусом, наиболее передовыми, удобными и востребованными приборами
28.12.2012 | 2724
Долговечные клещи гарантируют надежный результат измерения параметров электрических сетей в условиях ограниченного пространства
27.12.2012 | 1907
Выносные модули захвата помогают инженерам точно и эффективно измерять характеристики многопортовых устройств, работающих на скоростях от 10 до 32 Гбит/с
26.12.2012 | 2957
National Instruments представляет новую линейку модулей PXI и PXI Express с программируемым сопротивлением, специально разработанных для воспроизведения режима работы потенциометров, терморезисторов и омических нагрузок.
25.12.2012 | 1986
Компания Rohde&Schwarz анонсирует новое программное и аппаратное обеспечение для тестирования устройств NFC.
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
13.02.1910
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии по физике 1956 года
|
