EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости КИПиС

RSS

28.01.2014 | 1831
10 лет Системе добровольной сертификации экспертов-метрологов Сегодня отмечается десятилетие Системы добровольной сертификации экспертов-метрологов. 28 января 2004 года были утверждены Правила функционирования СДСЭМ, что явилось отправной точкой создания и формирования Системы, ее становления и развития.
27.01.2014 | 2074
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Целостность сигнала/высокоскоростное тестирование (Signal Integrity/High-Speed) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Целостность сигнала/высокоскоростное тестирование (Signal Integrity/High-Speed).
24.01.2014 | 1888
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории ВЧ/СВЧ-анализаторы (RF/microwave) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории ВЧ/СВЧ-анализаторы (RF/microwave).
23.01.2014 | 1785
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Тестовая поддержка (Test support) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Тестовая поддержка (Network test).
21.01.2014 | 1672
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Контроль с помощью систем машинного зрения (Machine Vision/Inspection) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Контроль с помощью систем машинного зрения (Machine Vision/Inspection).
20.01.2014 | 2618
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Ручное тестирование (Handheld portable test) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Ручное тестирование (Handheld portable test).
19.01.2014 | 1446
Закон «Об аккредитации в национальной системе аккредитации» подписан Президентом Российской Федерации 28 декабря 2013 года Президент Российской Федерации В.В.Путин подписал Федеральный закон N 412-ФЗ «Об аккредитации в национальной системе аккредитации».
16.01.2014 | 2121
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Сбор данных (Data acquisition) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Сбор данных (Data acquisition).
15.01.2014 | 1893
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Производственные испытания (Manufacturing test) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Производственные испытания (Manufacturing test).
07.01.2014 | 2688
Начала свою работу выставка потребительской электроники CES 2014 Сегодня начала свою работу Международная выставка CES 2014. Выставка CES 2014, основанная CEA, станет центром международных встреч для всех, кто занимается успешным бизнесом в сфере потребительской электроники. Мероприятие будет открыто для посещения до 10 января включительно. Место проведения: Лас-Вегас, штат Невада, США.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.