![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 891 - 900 из 1560
03.04.2016 | 1679
14 апреля 2016 г. ФГУП «ВНИИМС» приглашает специалистов метрологических служб принять участие в работе практического семинара: «Новые нормативные документы, регламентирующие испытания в целях утверждения типа средств измерений. Практика применения».
02.04.2016 | 1310
12 апреля 2016 года Комитет РСПП по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия совместно с ASTM и API проводит традиционную конференцию «Практическое применение зарубежных и международных стандартов».
26.03.2016 | 1517
ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" приглашает Вас принять участие в 8-ом международном научно-практическом семинаре: «Проблемы калориметрии сгорания твердых, жидких и газообразных топлив». Семинар пройдёт 18-22 апреля в г. Санкт-Петербург.
20.03.2016 | 1657
Мероприятие пройдёт 6 апреля в Москве. Семинары по этой теме будут сфокусированы на самых важных из новых технологий цифровой обработки сигналов. Они рассчитаны на опытных инженеров-практиков. Первый однодневный семинар посвящен проблемам высокоскоростной обработки и передачи цифровых данных в системах цифровой обработки сигналов.
13.03.2016 | 1508
Новое специализированное направление деятельности ФБУ «Ростест-Москва»: комплексная услуга по поверке, калибровке, техническому обслуживанию и ремонту авиационного наземного и бортового измерительного оборудования.
12.03.2016 | 1739
Программа семинара включает: изучение научных, методических, организационных основ метрологического обеспечения; подробно рассматриваются актуальные положения законов РФ, нормативных документов ГСИ, анализ проблем, связанных с аккредитацией метрологических служб.
06.03.2016 | 1489
Семинар «Новая документация по аккредитации лабораторий в соответствии с требованиями Федеральной службы по аккредитации лабораторий (Росаккредитация). Внутренний контроль качества результатов измерений в аккредитованных лабораториях в соответствии с требованиями ГОСТ Р ИСО/МЭК 17025 и ГОСТ Р 5725, пробоотбор, подготовка оборудования, методики измерений, прослеживаемость в аккредитованных лабораториях» пройдёт 22-25 марта 2016 г. в ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева". Мероприятие организуется для специалистов в области проведения количественных химических анализов в аккредитованных лабораториях.
05.03.2016 | 1311
Семинар пройдёт с 6 по 8 апреля 2016 в Санкт-Петербурге. В ходе семинара будут рассматриваться следующие вопросы: особенности парка современных средств учета и контроля качества электрической энергии, средств измерений цифровых подстанций и векторных измерений; методы и средства их испытаний, калибровки и поверки.
28.02.2016 | 1548
15 – 17 марта 2016 года Академия стандартизации, метрологии и сертификации (учебная) проводит повышение квалификации по программе «Обеспечение компетентности органов по сертификации и порядок их аккредитации». Обучение проводится с целью повышения профессионального уровня специалистов, приобретения ими знаний и навыков по вопросам подтверждения соответствия, а также особенностями деятельности органов по сертификации.
27.02.2016 | 1389
Встреча состоялась с 8 по 9 февраля 2016 года в г. Брауншвайг (Германия). Во встрече с Российской стороны также принимали участие: Директор ФГУП «ВНИИОФИ» и Президент КООМЕТ В.Н. Крутиков; Директор ФГУП «ВНИИР» В.Г. Соловьев; И.о. директора ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева» К.В. Гоголинский; Начальник международного отдела ФГУП «ВНИИМС» С.В. Комиссаров. С немецкой стороны приняли участие: Руководитель Департамента и Вице-президент КООМЕТ П. Ульбиг; Член Совета директоров ПТБ Й. Штенгер а также представители ведущих научных отделов ПТБ.
Новости 891 - 900 из 1560
|
События из истории измерений
13.02.1972
Дата основания
13.02.1910
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии по физике 1956 года
|