EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Определение типа проводимости полупроводников

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Как известно, полупроводники могут быть двух типов:
  • с дырочной проводимостью или p-типа;
  • с электронной проводимостью или n-типа.

В связи с этим часто возникает необходимость экспериментального определения типа полупроводника. Она может решаться параллельно с определением удельных сопротивлений с использованием четырехточечной измерительной схемы. При этом известны два основных способа определения типа проводимости:

  • метод выпрямления (Rectification Method)
  • метод термо-ЭДС (Thermoelectric Voltage Method).

Для реализации первого метода используется измерительная схема, показанная на рис. 1

Рис. 1 Реализация метода выпрямления

При полупроводнике p-типа у осциллограммы контрольной точки (рис. 2) отчетливо видна несимметричность осциллограммы – положительная полуволна явно имеет большую амплитуду, чем отрицательное и среднее напряжение в контрольной точке положительно. При полупроводнике n-типа преобладает отрицательная полуволна и напряжение в контрольной точке отрицательно.

Рис. 2 Осциллограммы контрольного сигнала

Второй метод реализуется измерительной схемой, показанной на рис. 3 Определение типа проводимости аналогично описанному и выполняется по показаниям вольтметра. Этот метод предпочтителен при испытании низкоомных полупроводников, когда метод выпрямления работает плохо из-за низкого уровня напряжения в контрольной точке.

Рис. 3 Реализация метода термо-ЭДС

Источник

А. А. Афонский, В. П. Дьяконов, Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике

Под ред. проф. В. П. Дьяконова, Москва, ДМК пресс, 2011


Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Конвертер единиц измерения
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.