![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Статьи КИПиС
Автор(ы):
Андреа Винчи (Andrea Vinci)
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 4
Исследователи, ученые и инженеры сталкиваются с общими сложностями при внесении в отчёты точных электрических параметров таких полупроводниковых приборов, как специальные полевые нанотранзисторы. Более того, иногда им приходится доказывать, что они действительно способны контролировать эти параметры простым и воспроизводимым способом. Данная статья предлагает «Решение проблемы высокой ёмкости соединений измерительной схемы при тестировании маломощных МОП-транзисторов».
Автор(ы):
Богаченков Д.А. , Лемешко Н.В., Рахманов И.М.
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 4
Значимость методов и средств обеспечения ЭМС ППМ, а также измерения её показателей в будущем будет только возрастать, а повышение общего объёма испытаний требует тщательной выверки подходов к их проведению и их разумной оптимизации. Об этом подробнее можно прочитать в настоящей статье…
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 4
В статье рассматривается мультиметр-калибратор процессов АКТАКОМ АМ-7113, приводится описание уникальных функциональных возможностей калибратора (генерация стандартных и произвольных сигналов, режим имитации электронной нагрузки и др.), а также сравнительная таблица, в которой представлены основные технические характеристики мультиметров-калибраторов АКТАКОМ.
Автор(ы):
Лемешко Н.В., Румянцев К.В.
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 3
Авторы настоящей статьи анализируют спектральные особенности импульсных сигналов и теоретические ограничения, определяющие и импульсный режим работы; оценивают зависимость параметров шума по характеристикам модулирующих импульсов; рассматривают метод цифровой фазовой демодуляции с взаимной корреляцией обработки; а также описывают функциональные особенности анализаторов R&S FSWP.
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 3
В случае, когда БПЛА появляется в неположенном месте, последствия могут быть катастрофическими. Поэтому организациям необходимы точные, простые в эксплуатации и экономичные решения для обнаружения в режиме реального времени беспилотных летательных аппаратов, совершающих полеты в запретной зоне воздушного пространства или вблизи нее. В данной статье обсуждаются вопросы поиска решения для обнаружения БПЛА.
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 3
20 мая 2020 прошла конференция МетролЭкспо, приуроченная к празднованию Всемирного дня метрологии. Конференция впервые была проведена в новом онлайн-формате на YouTube-канале Росстандарта и получила название МетролLIVE. Как это было, читайте на страницах этого номера журнала.
Автор(ы):
Левин С.Ф.
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 3
1 сентября 2019 года вступил в силу стандарт ИСО/МЭК 17025–2019, описывающий общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий. В своей статье автор привел исторические факты, рассказал об анализе управления рисками и особенностях данного стандарта и постарался ответить на вопрос, возможна ли взаимосвязь этих составляющих, и можно ли ее считать правильной.
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 3
В этой статье рассматривается ряд надежных и современных приборов АКТАКОМ, с помощью которых можно самостоятельно проводить периодическую профилактику и диагностику электросетей, заблаговременно обнаружить различного рода дефекты и устранить причину их возникновения. Грамотное обслуживание, периодические замеры показаний электроприборов и силовых линий с помощью приборов АКТАКОМ — залог бесперебойной, безопасной и безаварийной работы любого электрооборудования и систем электроснабжения.
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 3
Статья знакомит с новыми источниками переменного напряжения АКТАКОМ APS-4215 и APS-4220, приводятся основные технические характеристики и описываются дополнительные функциональные возможности этих приборов, значительно повышающие их привлекательность как многофункциональных лабораторных источников питания.
Автор(ы):
Левин С.Ф.
Номер журнала:
КИПиС 2020 № 2
Метрология – это фундаментальная наука о методах и средствах отображения свойств физических объектов математическими моделями. И, как показала предыстория, проблема неадекватности всегда была центральной для метрологии. В настоящей статье профессор Левин С.Ф. приводит интересные факты из многовековой истории метрологии, которые помогут вам лучше разобраться в данном вопросе.
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.
Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.
|
События из истории измерений
10.09.1973
Дата основания
|