 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Статьи КИПиС
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 1
22 января в офисе компании Agilent Technologies прошло очередное интересное пресс-мероприятие, на котором были освещены самые свежие события из жизни компании, и представлены планы на будущее. Генеральный директор российского представительства компании, Смирнова Галина Владимировна, поприветствовав гостей, рассказала, какие изменения произошли с компанией за последнее время, что им предшествовало, а главное, какие перспективы откроются перед организацией уже в этом году.
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 1
28-29 ноября 2013 года в Конгресс-центре МТУСИ прошла двенадцатая международная научно-практическая конференция «NIDays-2013», на которую зарегистрировались более 700 руководителей предприятий, инженеров, профессоров, преподавателей и студентов из более чем 50 городов России, Казахстана, Армении, Грузии, Латвии, Молдовы, Украины и Белоруссии. На секциях конференции, посвященных радиотехнике и электронике, стендовым испытаниям и многоканальным системам сбора данных, промышленным системам мониторинга и АСУ ТП, лабораторным практикумам и учебным стендам, автоматизации научного эксперимента было представлено более 150 докладов.
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 1
29 января в рамках выставки DesignCon 2014 прошла церемония награждения победителей престижного конкурса Best in Test, который ежегодно проводится журналом Test & Measurement World, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение прошло в выставочном центре Santa Clara Convention Center (Санта-Клара, штат Калифорния, США).
В этом году, впрочем, как и всегда, претендентов на звание лучшего из лучших было очень много. Их основные направления различались, оборудование было специально разработано для определённых областей промышленности, и, тем не менее, их объединяло одно — стремление стать победителем и завоевать всемирное признание.
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 5
19 сентября мировой лидер в области измерительной техники компания Agilent Technologies провела пресс-ланч, посвящённый современным контрольно- измерительным решениям Agilent. У компании готово к анонсу сразу несколько новейших решений в области ВЧ/СВЧ и цифровых измерений. В целях подробного представления всех их преимуществ было организовано данное пресс- мероприятие, которое прошло в отеле Swissotel Красные холмы.
Номер журнала:
КИПиС 2012 № 5
30 августа компания Agilent Technologies провела очередное замечательное мероприятие — пресс-ланч в отеле Swissotel Красные Холмы. Компания регулярно организовывает всевозможные тренинги и семинары, посвящённые самым разным областям измерений. Стремление как можно больше рассказать о своих разработках очень характеризует компанию и только подтверждает её статус мирового лидера в области измерительной техники. Так, на страницах нашего июньского номера публиковалась заметка о семинаре Agilent по осциллографии. В этот раз главной темой мероприятия стали решения Agilent Technologies для анализа и для тестирования беспроводных сетей последнего поколения LTE/LTEAdvanced. На этом же пресс-ланче были также анонсированы 14 новых моделей комбинированных СВЧ-анализаторов.
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
29.01.1926
Родился пакистанский физик-теоретик, лауреат Нобелевской премии по физике 1979 года
|
