 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Статьи КИПиС
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 2
AWR Corporation, совместно со своими партнёрами — компаниями Softline и WIN Semiconductors — организовала серию семинаров «AWR Design Forum 2014». Специалисты компании провели первый семинар 25 февраля в Москве, в отеле «Бородино». 27 февраля семинар был проведён в Санкт- Петербурге. Компания AWR, которая ведёт свою историю с 1994 г. — это передовое предприятие по разработке программных продуктов, предназначенных для автоматизации проектирования высокочастотных электронных устройств...
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 2
Вероятно, вы уже слышали о том, что компания Agilent Technologies объявила об отделении Группы электронных измерений с образованием самостоятельной компании. 7 января было оглашено название этой новой компании: Keysight Technologies.
Автор(ы):
Скотт Дэвидсон (Scott Davidson)
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 2
Современные схемы смешанных сигналов становятся всё сложнее, доставляя множество хлопот инженерам. Разработчики встраиваемых систем износили уже не одну пару сапог в поисках эффективных методов диагностики и отладки новейших схем. К этим проблемам относятся разработка источников питания и измерение их КПД, встраивание в схемы беспроводных устройств или выявление источников шума, влияющих на параметры устройства...
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 2
Полупроводники уже давно получили широкое применение в самых различных областях. Практически не один электронный аппарат не обходится без использования полупроводниковых электронных компонентов, будь то диоды, тиристоры, транзисторы и т.п. Поэтому, естественно, что одной из наиболее востребованных измерительных задач является их автоматическое тестирование и измерение характеристик. Относительно недорогим решением данной измерительной задачи может стать использование источников-измерителей Keithley серий 2400 и 2600A/B в сочетании с графической средой LabTracer. Благодаря графическому интерфейсу LabTracer управление прибором осуществляется с персонального компьютера, а задание параметров тестирования, измерение характеристик компонентов и графическое отображение вольт-амперных характеристик производится без программирования.
Автор(ы):
Лемешко Н.В.
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 2
Развитие электронных устройств и средств технико-физических измерений тесно связано с совершенствованием методов измерений характеристик импульсов. Многие установки генерируют знакопеременные импульсы, характеризующие протекание каких-либо процессов. К ним следует отнести взрывомагнитные генераторы мощных импульсов электрического тока, регистраторы грозовых разрядов, счетчики частиц, датчики лавинных процессов. Импульсы, генерируемые в таких устройствах, содержат информацию о протекающем процессе, например, о скорости нарастания, амплитудных уровнях, длительности затухания. Эти характеристики могут быть измерены осциллографическими методами при использовании вспомогательных масштабирующих устройств.
Автор(ы):
Афонский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 2
Компания RIGOL Technologies, Inc. осенью 2013 года представила ряд новинок. Кроме осциллографов, о которых в нашем журнале вы читали ранее, были представлены новейшие цифровые генераторы сигналов серии Rigol DG1000Z и генераторы СВЧ сигналов DSG3000. Генераторы сигналов Rigol известны еще с конца 2000-х годов. Линейка генераторов делилась на три серии приборов: DG1000, DG2000 и DG3000...
Автор(ы):
Афонский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 2
Почему для измерений осциллографом в электрической сети 220 В нужны специальные приборы или дополнительные пробники? Казалось бы, эта тема давно представлена и известна. Но типичная ошибка выбора осциллографа для подобных измерений в этом месяце встретилась в письмах читателей несколько раз. Поэтому мы представляем решение данной измерительной задачи...
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 1
22 января в офисе компании Agilent Technologies прошло очередное интересное пресс-мероприятие, на котором были освещены самые свежие события из жизни компании, и представлены планы на будущее. Генеральный директор российского представительства компании, Смирнова Галина Владимировна, поприветствовав гостей, рассказала, какие изменения произошли с компанией за последнее время, что им предшествовало, а главное, какие перспективы откроются перед организацией уже в этом году.
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 1
28-29 ноября 2013 года в Конгресс-центре МТУСИ прошла двенадцатая международная научно-практическая конференция «NIDays-2013», на которую зарегистрировались более 700 руководителей предприятий, инженеров, профессоров, преподавателей и студентов из более чем 50 городов России, Казахстана, Армении, Грузии, Латвии, Молдовы, Украины и Белоруссии. На секциях конференции, посвященных радиотехнике и электронике, стендовым испытаниям и многоканальным системам сбора данных, промышленным системам мониторинга и АСУ ТП, лабораторным практикумам и учебным стендам, автоматизации научного эксперимента было представлено более 150 докладов.
Номер журнала:
КИПиС 2014 № 1
29 января в рамках выставки DesignCon 2014 прошла церемония награждения победителей престижного конкурса Best in Test, который ежегодно проводится журналом Test & Measurement World, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение прошло в выставочном центре Santa Clara Convention Center (Санта-Клара, штат Калифорния, США).
В этом году, впрочем, как и всегда, претендентов на звание лучшего из лучших было очень много. Их основные направления различались, оборудование было специально разработано для определённых областей промышленности, и, тем не менее, их объединяло одно — стремление стать победителем и завоевать всемирное признание. При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|
