EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Статьи КИПиС


Номер журнала: КИПиС 2017 № 1 25-27 апреля 2017 года в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо» пройдет 15-я Международная выставка «ЭлектронТехЭкспо» — единственная в России выставка технологий, оборудования и материалов для производства изделий электронной и электротехнической промышленности. В 2017 году в выставке примут участие более 100 компаний, которые продемонстрируют оборудование и материалы для производства печатных плат и электроники, гальваническое оборудование, технологическое оборудование для микроэлектроники, конвейерные системы, шкафы для хранения компонентов, решения для производства кабельных сборок и жгутов, измерительные приборы, испытательное и вспомогательное оборудование, промышленную мебель и др.
Автор(ы): Гуськов А.А. Номер журнала: КИПиС 2017 № 1 В журнале КИПиС 2013 № 6 была опубликована статья «Обзор цифровых осциллографов RIGOL серии DS1000Z», открывшая целый цикл обзоров, в которых был рассмотрен практически полный ассортимент измерительного оборудования, выпускаемого компанией RIGOL Technologies, Inc. В журнале КИПиС за прошедшее время были опубликованы обзоры, посвященные цифровым генераторам серии DG1000Z, радиочастотным и векторным генераторам, источникам питания, анализаторам спектра и многоканальной измерительной системе М300. Как же изменился модельный ряд цифровых осциллографов RIGOL за прошедшие три года? Какими сериями и моделями он представлен в настоящее время? Ответам на эти вопросы посвящен данный обзор.
Автор(ы): Даниэл Богданофф (Daniel Bogdanoff) Номер журнала: КИПиС 2017 № 1 Сейчас выпускаются сотни разных осциллографических пробников, и как же выбрать тот, который нужен? Единого ответа тут нет, поскольку каждый инженер решает свои задачи, отличающиеся от других. Однако существуют определённые параметры пробников, которые надо учитывать в процессе принятия решения.
Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2017 № 1 В настоящее время является популярной тема внедрения систем умного дома. Эти системы позволяют, как правило, решить несколько категорий типовых задач, необходимых в доме или офисе: безопасность, видеонаблюдение, управление энергопотреблением, домашняя автоматизация, комфорт. Новые системы умного дома ориентированы на беспроводные технологии…
Номер журнала: КИПиС 2016 № 6 С 8 по 11 ноября 2016 года в Мюнхене прошла одна из крупнейших выставок электронных компонентов, систем и применения электроники — electronica 2016. Тысячи организаций со всех уголков мира имели возможность выдвинуть свои идеи для решения ключевых задач данной области промышленности. На четыре дня выставка electronica превратилась в уникальное место встречи компаний и многочисленных посетителей, открытых к диалогу и сотрудничеству.
Автор(ы): Афонская Т.Д., Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2016 № 6 Гонконг — это не только один из самых красивых городов планеты, это крупнейшая рыночная площадка электронной продукции, используемой в самых разных промышленных областях. В этом октябре, как обычно, прошло сразу несколько масштабных международных выставок. Общая цель мероприятий — продемонстрировать новейшие достижения в сфере электронных разработок.
Автор(ы): Левин С.Ф. Номер журнала: КИПиС 2016 № 6 Основными мероприятиями ГСИ по проверке средств измерений (СИ) установленным требованиям являются испытания в целях утверждения типа и различные виды поверки (первичная, периодическая, комплектная, поэлементная, выборочная и сокращенная). В зарубежной практике используется термин верификация…
Номер журнала: КИПиС 2016 № 6 12 октября 2016 г. компания Keysight Technologies провела вторую часть цикла семинаров «Основы измерений», на этот раз темы докладов были посвящены измерительным технологиям для прикладных задач. Для удобства участников в рамках семинара одновременно проводилось 5 параллельных секций, в рамках которых были представлены 14 тем. Каждый участник мог выбрать сам, какие именно темы представляют для него наибольший интерес, и в течение дня мог посетить только интересующие его модули программы.
Автор(ы): Роланд Чжанг (Rolland Zhang) Номер журнала: КИПиС 2016 № 6 Обилие современных беспроводных технологий порождает потребность в расширенных средствах измерения, которые нужны для эффективного обслуживания развёрнутых оборонных и коммерческих радиосистем. Функция RTSA в портативных анализаторах спектра или комбинированных анализаторах семейства FieldFox очень полезна для поиска помех и мониторинга сигналов вплоть до миллиметрового диапазона частот.
Автор(ы): Джейк Харнак (Jake Harnack) Номер журнала: КИПиС 2016 № 6 Системы испытания надежности кристаллов на пластине (WLR) используются на производстве уже в течение многих десятилетий, и различаются по измерительным возможностям и архитектуре. Специализированные системы WLR могут использовать высокочастотный переменный ток или импульсные сигналы. Тем не менее, для тестирования большинства полупроводниковых устройств применяются приборы постоянного тока, такие как источник-измеритель SMU, которые формируют необходимое напряжение и способны осуществлять измерения и сбор данных о параметрах.


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.