EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Измерение интермодуляционных искажений на современных анализаторах спектра

Интермодуляционные искажения (ИМИ) оказывают значительное влияние на многие измерения с помощью анализатора спектра. В основном анализаторы спектра используются для измерения ИМИ в испытуемых устройствах (ИУ). Тем не менее, анализатор спектра сам может служить источником ИМИ из-за различных активных нелинейных элементов, находящихся в его сигнальном тракте. Наиболее критичными составляющими интермодуляционных искажений являются составляющие интермодуляционных искажений третьего порядка (TOI). Они возникают при одновременной подаче двух сигналов на нелинейное устройство. Составляющие TOI часто лежат внутри используемого частотного диапазона, либо рядом с ним, т.е. могут попасть в соседний канал системы связи. В данной статье содержится обзор влияющих на ИМИ элементов и приведены рекомендации для оптимальных настроек уровня, которые минимизируют вызванные анализатором спектра ИМИ.

Источник: www.rohde-schwarz.ru


Номер журнала: КИПиС 2012 № 5

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик
Луи Эжен Феликс Неель
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.