50-летний юбилей национальной метрологической системы США

21-25 августа 2011 в Вашингтоне (Gaylord National Convention Center, National Harbor, MD, США) прошел международный симпозиум метрологов, который собрал более 2000 человек. Девиз симпозиума «50 лет: Размышляя о прошлом — смотрим в будущее». Обзор данного мероприятия также включает небольшое интервью Виктора Саприцкого, доктора технических наук, профессора, руководителя лаборатории фотометрии ВНИИОФИ.

Автор(ы): Афонская Т.Д., Афонский А.А.
Номер журнала: КИПиС 2011 № 5
Читать в PDF: Читать