Решение задач многопортового векторного анализа цепей и одновременного тестирования нескольких устройств

Для минимизации стоимости тестирования в условиях массового производства компонентов требуется тестировать больше устройств за меньшее время. Инженеры принимают разнообразные меры по сокращению времени тестирования, автоматизируя контрольно-измерительные системы. Увеличение скорости тестирования становится более проблематичным по мере роста числа портов и расширения функциональности выпускаемых устройств…
Автор(ы): Такуя Хирато (Takuya Hirato)
Номер журнала: КИПиС 2017 № 5