 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Метрология-2010. Мост к инновациям
В статье приведен краткий обзор двух наиболее важных для метрологов мероприятий: 6-ой Международной выставки-конкурса средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2010» и 2-го Московского Международного симпозиума метрологов, посвященных Всемирному Дню метрологии.
Автор(ы): Коптева Н.А. Номер журнала: КИПиС 2010 № 3 Читать в PDF: Читать Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Технические регламенты
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|
