Обзор выставки «MERATEK-2006»

С 16 по 19 мая 2006 года в Москве, в СК «Олимпийский», проходила 7-я Международная выставка MERATEK-2006 «Измерительные приборы и автоматизация», организованная британской компанией ITE Group PLC и ООО «Примэкспо» при поддержке Управления технического надзора Федеральной службы по экологическому, технологическому и атомному надзору, Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, ОАО «Российские железные дороги».

Организаторам выставки удалось собрать на одной площадке более 170 компаний и предоставить посетителям выставки уникальную возможность ознакомиться с новыми разработками и достижениями отечественных и зарубежных производителей измерительного оборудования и средств автоматизации, встретиться с производителями и поставщиками, повысить свою квалификацию.

На стенде компании «Контроль. Измерения. Диагностика» был представлен низкочастотный акустический дефектоскоп АД-701 М, предназначенный для тестирования композиционных материалов. Прибор совмещает два метода контроля — импедансный и метод свободных колебаний. Спектральный анализ сигналов повышает достоверность контроля. Дефектоскоп позволяет определять расслоения, непроклеи, нарушения сплошности контролируемого объекта.

Богатая экспозиция разнообразной контрольно-измерительной техники общего назначения была представлена на стенде компании «ЭЛИКС» (г. Москва). На стенде этой компании специалисты могли познакомиться с новой серией цифровых запоминающих осциллографов Tektronix DPO 4000. Двух- и четырехканальные модели имеют полосу пропускания 1 ГГц, 500 МГц и 350 МГц. Частота дискретизации составляет 5 Гвыб/с на каждом канале. Объем памяти 10 Мвыб/канал. Элементы управления Wave Inspector существенно повышают эффективность анализа осциллограмм. Дистанционный просмотр и управление с помощью специальной функции e*Scope. Возможность работы совместно с логическими анализаторами Tektronix для анализа аналоговых и цифровых сигналов.

В целом, выставка MERATEK-2006 была результативной как для экспонентов, так и для специалистов, посетивших выставку. Выставка стала хорошей площадкой для общения деловых кругов, своеобразным индикатором эффективности развития российского приборостроения и расширения международных связей.

Автор(ы): Лапшина Т.В.
Номер журнала: КИПиС 2006 № 3
Читать в PDF: Читать