Неделя National Instruments-2006

В этом году лето в США выдалось необычно жарким. Даже в Нью-Йорке температура иногда превышала 100 градусов по Фаренгейту (38 градусов по Цельсию). В каменных джунглях Нью-Йорка такая жара просто непереносима. Американские газеты и телевидение наперебой сообщали о человеческих жертвах. А в зеленом и тенистом Остине (Austin), штат Техас, казалось, что жара совершенно не мешает. Люди, как обычно, занимались джоггингом, греблей, сидели в открытых кафе и работали на NI Week-2006.

С 8 по 10 августа 2006 года в г. Остин, где располагается головной офис известной компании National Instruments (www.ni.com), проходила 12-я ежегодная всемирная конференция по виртуальным инструментам NI Week-2006.

В этом году компания National Instruments празднует два юбилея: 30 лет со дня образования компании и 20 лет с момента разработки LabVIEW — графической программной среды для разработки виртуальных приборов.

В 1976 г. Джеймс Тручард (James Truchard), Джеф Кодоски (Jeff Kodosky) и Билл Ноулин (Bill Nowlin) мечтали создать компанию, где они могли бы иметь долгосрочное и перспективное поле деятельности, и в которой было бы интересно работать. Теперь, три десятилетия спустя, National Instruments празднует свой юбилей как глобальная компания с более чем 3 800 служащими и уникальной культурой, поддерживающей атмосферу новаторства, целеустремленности и увлеченности, как ключ к успеху.

Сегодня NI создает передовые программные продукты, которые улучшают повседневную жизнь, и дает пользователям лучшие решения для измерений и автоматизации мира вокруг них. Все прошедшие 30 лет NI задает тон в виртуальных инструментах, используя уникальный подход к разработкам, промышленному контролю, испытаниям и измерениям, объединяя существующие коммерческие технологии с современным программным обеспечением и аппаратными средствами.

Подробности о 12-ой ежегодной всемирной конференции NI Week-2006 и представленных на ней новинках читайте в pdf-версии статьи, доступной по ссылке ниже.

Автор(ы): Афонская Т.Д., Афонский А.А.
Номер журнала: КИПиС 2006 № 5
Читать в PDF: Читать