|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Осциллограф смешанных сигналов ускоряет отладку встроенных системСегодня разработчики современных встроенных систем сталкиваются с проблемой постоянного возрастания их сложности. Типовая конструкция встроенной системы включает всевозможные аналоговые сигналы, высоко- и низкоскоростные последовательные линии передачи цифровых данных и микропроцессорные шины. Протоколы последовательной передачи данных, такие как I2C и SPI, часто используются для передачи информации между микросхемами, но они не могут заменить параллельные шины во всех приложениях. Микропроцессоры, программируемые матрицы (FPGA), аналого-цифровые (АЦП) и цифро-аналоговые (ЦАП) преобразователи — вот неполный перечень микросхем, которые доставляют массу измерительных проблем при разработке встроенных систем. Порой инженеру требуется декодировать сигнал шины SPI между двумя микросхемами и при этом одновременно наблюдать сигналы на входе и выходе АЦП на этой же системной плате. Отладка аппаратной части системы, содержащей смешанные сигналы, представляет собой довольно сложную задачу при использовании обычного четырехканального осциллографа, поэтому многие инженеры вынуждены использовать для исследования множественных сигналов одновременно несколько осциллографов. Логические анализаторы обеспечивают возможность исследования нескольких цифровых сигналов, но сложность задачи отладки системы не всегда оправдывает сложность использования этих приборов. К счастью для инженеров, сталкивающихся с такими трудностями, для решения этих проблем разработаны осциллографы смешанных сигналов (mixed signal oscilloscope — MSO). Осциллограф смешанных сигналов совмещает основные функциональные возможности 16-канального логического анализатора с привычным управлением и функционированием четырехканального осциллографа. В данной статье рассказывается о функциональных возможностях и методах применения осциллографов смешанных сигналов Tektronix MSO4000 для задач измерения сигналов при отладке встроенных систем. Автор(ы): Тревор Смит (Trevor Smith) Номер журнала: КИПиС 2007 № 2 Читать в PDF: Читать Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|