 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Москва. ВВЦ. Метрология-200919 мая 2009 года во Всероссийском Выставочном Центре была торжественно открыта 5-я международная специализированная выставка «Метрология». В рамках выставки проводился Первый всероссийский симпозиум метрологов. Симпозиум приурочен к 20 мая — Всемирному дню метрологии. Журнал «Контрольно-измерительные приборы и системы» выступил информационным спонсором выставки. В статье Вы сможете прочитать подробный обзор прошедшей выставки «Метрология-2009». Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2009 № 3 Читать в PDF: Читать Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Технические регламенты
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
26.12.1791
Родился английский математик, изобретатель первой аналитической вычислительной машины
|
