Экспериментальная оценка характеристик быстродействия полупроводниковых элементов с использованием осциллографов серии R&S RTO

В статье рассматривается вопрос об измерении характеристик быстродействия полупроводниковых элементов. Анализируются соответствующие методы. Показана необходимость использования высококачественного оборудования при проведении измерений осциллографическим методом. Рассмотрены принципы и схемы измерений времени транзита носителей заряда для диодов, приведены примеры измерений с использованием оборудования фирмы Rohde&Schwartz.
Автор(ы): Лемешко Н.В., Струнин П.А.
Номер журнала: КИПиС 2015 № 3