|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Открытие и Первый день конференции NIWeek 201003.08.2010 Сегодня, 3 августа, тысячи наиболее выдающихся инженеров, ученых, изобретателей, преподавателей и студентов собираются в г.Остин (штат Техас, США) на NIWeek 2010 - ведущей конференции и выставке по системам графического проектирования. Конференция пройдет с 3 по 5 августа в выставочном центре Austin Convention Center (г.Остин, штат Техас, США). Компания National Instruments проводит конференцию NIWeek ежегодно, уже в течение 16 лет. В каждый день конференции руководители и разработчики компании будут проводить тематические презентации и доклады. 3 августа д-р Джеймс Тручард (Dr. James Truchard) - президент, генеральный директор и соучредитель National Instruments - расскажет о новейших технологиях и разработках, в частности, о разработке потокового цифрового сигнального процессора (DSP) и программного обеспечения определенных радиостанций для оптимизации систем графического дизайна. В течение этой масштабной трехдневной конференции участники смогут посетить технические презентации, практические семинары, доклады по тематическим исследованиям, а также принять участие в важных для данной отрасли дискуссиях. Участникам также предоставлена возможность улучшить свои знания по Instruments LabVIEW и примкнуть к мировому сообществу NI LabVIEW. На выставке продемонстрируют свою новую продукцию и решения более чем 200 экспонентов.
Подробнее о NIWeek можно узнать, пройдя по ссылке http://www.ni.com/niweek/ Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|