|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Измеритель временных интервалов
ИЗМЕРИТЕЛЬ ВРЕМЕННЫХ ИНТЕРВАЛОВ, прибор для измерения промежутков времени (однократных и повторяющихся), разделяющих к.-л. два события. В. и. и. применяются для контроля и калибровки измерит, аппаратуры, измерения длительностей и периодов повторения импульсов, периодов гармонич. колебаний, определения времени переключения ПП приборов, логич. элементов, ферритовых сердечников, времени задержки сигналов в линиях связи и т. д.
Различают В. и. и. с прямым и косвенным методами измерения. В В. и. и. первого типа (рис.) интервал времени измеряют сравнением с периодом повторения квантующих импульсов. Для этого в начале и конце измеряемого промежутка времени формируются старт- и стоп-импульсы, к-рые соответственно открывают и закрывают ключ, пропускающий квантующие импульсы на счётчик. Зная число квантующих импульсов (N) и период их повторения (Т0), нетрудно определить искомый интервал времени Тx=Т0N. Точность таких В. и. и. зависит от периода повторения квантующих импульсов и скорости счёта; у большинства В. и. и. этого типа точность не превышает 10-7 с. Значительно большую точность обеспечивают В. и. и. с косвенным методом измерения, из к-рых наиболее часто используются нониусный и стробоскопич. методы, а также метод, осн. на автоподстройке частоты. Нониусный метод предусматривает сравнение в В. и. и. абс. значений двух монотонных ф-ций времени, незначительно отличающихся по скорости изменения; метод обеспечивает измерение временных интервалов с точностью до 10-10 с. Стробоскопич. метод осн. на последовательном во времени измерении мгновенных значений сигнала, длительность к-рого измеряется с помощью коротких стробирующих импульсов, автоматически сдвигаемых относительно периодически повторяющегося сигнала; метод позволяет измерять промежутки времени с точностью до 10-12 с. Использование в В. и. и. метода автоподстройки частоты обеспечивает измерение временных интервалов с точностью до 10-11 с. Практически все совр. В. и. и. выполняются на ПП приборах, ИС и БИС, запоминающих ЭЛП.
Источник Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Энциклопедия измерений
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|